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Término solicitado: JARDINE, A. PETER^RED./(22)

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Tipo de Docum.:	congreso
Título:	*Smart materials fabrication and materials for micro-electro-mechanical systems; proceedings*
Autor:	Jardine, A. Peter. ed.; Johnson, George C.. ed.; Crowson, Andrew. ed.; Allen, Mark. ed.
Reunión:	Materials Research Society. MRS. Pittsburgh. US, Symposium, San Francisco. US, 1992
Título Ser./Col.:	Materials Research Society Symposium proceedings, 276
Idioma:	eng
Datos de Edición:	Pittsburgh. US. MRS. 1992.
Pág./Vol.:	317p.
Descriptores:	Microsistemas; Micromecánica; Materiales ferroeléctricos; Películas delgadas; Piezoelectricidad; Materiales piezoeléctricos; Polímeros; Materiales cerámicos; Materiales compuestos; Propiedades físicas; Propiedades eléctricas; Lasers; Oxido de cinc; Silicio; Sistemas cristalinos; Ensayos de impacto; Fricción; Desgaste; Tensiones; Microestructuras; Temperatura; Presión; Sensores ópticos; Sensores químicos; Biosensores; Actuadores; Guías de ondas; Sensores integrados; Recubrimientos superficiales; Semiconductores; Aleaciones; Titanio; Níquel; Materiales; Dispositivos electrónicos; Adhesión; Membranas; Potenciometría; Microscopía; Tungsteno; Poliimida; Piezorresistencia; Micromecanización; Dióxido de silicio; Fallas; Reparación

Ubicación:	Electrónica/E-30
Disponibilidad:	INTI-Electrónica e Informática

Tipo de Docum.:	congreso
Título:	*Smart materials fabrication and materials for micro-electro-mechanical systems; proceedings*
Autor:	Jardine, A. Peter. ed.; Johnson, George C.. ed.; Crowson, Andrew. ed.; Allen, Mark. ed.
Reunión:	Materials Research Society. MRS. Pittsburgh. US, Symposium, San Francisco. US, 1992
Título Ser./Col.:	Materials Research Society Symposium proceedings, 276
Idioma:	eng
Datos de Edición:	Pittsburgh. US. MRS. 1992.
Pág./Vol.:	317p.
Descriptores:	Microsistemas; Micromecánica; Materiales ferroeléctricos; Películas delgadas; Piezoelectricidad; Materiales piezoeléctricos; Polímeros; Materiales cerámicos; Materiales compuestos; Propiedades físicas; Propiedades eléctricas; Lasers; Oxido de cinc; Silicio; Sistemas cristalinos; Ensayos de impacto; Fricción; Desgaste; Tensiones; Microestructuras; Temperatura; Presión; Sensores ópticos; Sensores químicos; Biosensores; Actuadores; Guías de ondas; Sensores integrados; Recubrimientos superficiales; Semiconductores; Aleaciones; Titanio; Níquel; Materiales; Dispositivos electrónicos; Adhesión; Membranas; Potenciometría; Microscopía; Tungsteno; Poliimidas; Piezorresistencia; Micromecanización; Dióxido de silicio; Fallas; Reparación

Ubicación:	Electrónica/E-30
Disponibilidad:	INTI-Electrónica e Informática

Fin

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